光学膜厚仪是一种非接触式测量仪器，一般会运用在生产厂商大量生产产品的过程，由于误差经常会导致产品全部报废，这时候就需要运用光学膜厚仪来介入到生产环境，避免这种情况的发生。
1、光源：宽光谱光源；
2、探测器：高灵敏度低噪音阵列式光谱探测器；
3、控制箱：含电路板、控制单元、电源、光源；
4、输出设备：软件界面支持输出、输入光谱数据库。
系统特点：
1、嵌入式在线诊断方式；
2、免费离线分析软件；
3、精细的历史数据功能，帮助用户有效地存储，重现与绘制测试结果；
4、主要为半导体、新能源企业和高校及研发中心提供各类精密进口制程及测量设备。提供全面的一对一*，技术支持，备件管理和咨询服务。
性能特点：
1、快速测量：仅需1-2秒就可以完成一次测量；
2、测量范围广：可测量膜厚范围从15nm-70um；
3、简洁操作：常规操作，只需点击一个按钮就可完成操作；
4、高效稳定：适用于工业现场，稳定可靠；
5、经济实用：能够满足膜厚的常规测量，成本较低。
光学膜厚仪的使用注意事项：
1、零点校准：在每次使用膜厚仪之前需要进行光学校准，因为之前的测量参数会影响该次对物体的测量，零点校准可以消除前次测量有参数的影响，能够降低测量的结果的误差，使测量结果更加
jīng确；
2、基体厚度不宜过薄：在使用光学膜厚仪对物体进行测量时基体不宜过薄，否则会
jí大程度的影响仪器的测量精度，造成数据结果不准确，影响测量过程的正常进行；
3、物体表面粗糙程度：对于被测物体的表面不宜太过粗糙，因为粗糙的表面容易引起光的衍射，降低了光学膜厚仪的测量精度，造成很大的误差。所以被测物体的表面应该尽量保持光滑，以保证测量结果的
jīng确性。
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