红外激光测厚仪的测量原理是两个激光位移传感器的激光对射，被测体放置在对射区域内，根据测量被测体上表面和下表面的距离，计算出被测体的厚度。
该仪器的基本组成是激光器、成像物镜、光电位敏接shōu器、信号处理机测量结果显示系统。激光束在被测物体表面上形成一个亮的光斑，成像物镜将该光斑成像到光敏接shōu器的光敏上，产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时，其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变，相应地成像点在光敏器件上的位置也要发生变化。
测厚仪的功能说明：
1、可以对大多数常见材料进行测量，金属、塑料、陶瓷、玻璃还有纤维物质等等都是可以被红外激光测厚仪进行测量，其适用面很是广泛。
2、仪器经过抗干扰优化，在稳定性上有了更加好的表现，同时也使其测量精度得到了保障。
3、本测厚仪探头具有多种不同的频率，外加其晶片尺寸也是多样化的，可调可换，所以说使用起来十分灵活。
4、在进行测量的时候可以对其探头的耦合状态去进行感应和探测，然后实行反馈，提示功能十分人性化。
5、显示屏采用EL背光显示，在较为昏暗的环境当中我们也是可以看清楚的，减少了操作失误和操作难度。
6、探头还具有零点矫正的功能，以及亮点矫正的功能，可以实现是误差精度的校准，所以说起测量精度还是很有保证的。
7、搭载有是RS232接口，可以很方便的对数据进行传输。你可以将在线测厚仪的数据连接传输到你的电脑系统上，也可以将其传输到打印机上，十分方便我们对数据进行分析。
红外激光测厚仪的测量注意事项：
1、所进行测量的材料其金属磁性以及其表面的粗糙度需要尽可能与试应件保持相似，对于标准片金属的材料有所讲究。
2、在测量的过程当中，测厚仪的侧头需要与被测物体保持一种垂直的状态。
3、测量过程当中的基体金属的厚度需要考虑其临界厚度，大于临界厚度的测量不再受到其基体金属厚度的影响了。
4、在弯曲的曲面进行测量的时候要注意一点是考虑进曲面变化对厚度的影响，通常测量曲面厚度值的过程当中需要考虑保留值。
5、测量过程当中确保周围没有电磁设备对测厚仪进行电磁干扰，影响其测量精度。对于磁性测厚法设备来是这种影响是有其之大的。
6、测厚仪过程当中要确保被测量表面的压力数值保持恒定的状态，否则可能导致较大的1读数误差。
7、使用测厚仪进行测量时侧头需要确保与被测量物体的表面进行直接的接触，因此其表面的油污之类的需要及时去除干净。
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