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Product CategoryFilmetrics F40薄膜厚度测量仪 产品能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达450毫米
Filmetrics F54薄膜厚度测量仪能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达450毫米
Filmetrics F10-RT薄膜厚度测量仪 仅需要透过单击滑鼠就能够同时收集反射与透射光谱,不到一秒钟的时间,阵列的光谱仪就可以快速的收集到资料。
F2-RT 光谱反射和透射测量系统是美国Filmetrics新推出的物超所值同时测量反射率和透射率的仪器。
Filmetrics F10-ARc薄膜分析仪 目标光谱与多条反射光谱比较 – 自动评估反射率,*小/*大位置,并得出明确的读数结论。大 大的减少了人为造成的读数和计算误差。
Filmetrics 自动化厚度测量仪能以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度,一般较短的波长 (例如, F50-UV) 可用于测量较薄的薄膜,而较长的波长则可以用来测量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。