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RTEC 白光干涉仪+共聚焦一体机

简要描述：该仪器具备转盘式针孔共聚焦和白光干涉两种光学测量技术，用于各种材料/涂层/器件的高精度表面三维特征 测量，能够测量从粗糙的到光滑的，坚硬的到柔软的，黏性的表面以及各种场合下难于测量的表面，适用于金属材 料、非金属材料、复合材料、薄膜、涂层、器件等各种各样材料的表面微观结构特征的3D成像，提供各种粗糙度， 表面结构的台阶高度，角度、体积、长度、深度等多种数据的测试分析、相似特征的统计分析，轮廓提取等

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  • 更新时间：2024-03-19
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