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我国集成电路设计产业的发展中,中国集成电路设计业年会(ICCAD)一直发挥着推动产业集聚、对接产业资源、掌握行业趋势的重要作用。自1994年创办以来,ICCAD曾先后在深圳、杭州、成都、武汉、上海、珠海、大连、北京、厦门、无锡、西安、合肥、...
椭圆偏振仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量设备。由于并不与样品接触,对样品没有破坏且不需要真空,使得椭偏仪成为一种具吸引力的测量设备。基本原理:椭圆偏光法涉及椭圆偏振光在材料表面的反射。为表征反射光的特性,可分成两个分量:P和S偏振态,P分量是指平行于入射面的线性偏振光,S分量是指垂直于入射面的线性偏振光。菲涅耳反射系数r描述了在一个界面入射光线的反射。P和S偏振态分量各自的菲涅耳反射系数r是各自的反射波振幅与入射波振幅的比值。大多情况下会有多个界面,...
纳米压印技术是上世纪90年代StephenYChou,针对传统光刻受波长限制提出的类似于模板刻印的一种技术。纳米压印机是一种非常灵活的压印设备。它可提供加热型纳米压印、UV紫外纳米压印以及真空纳米压印。模块化系统可根据特定需求轻松配置,体积小,容易存放,大可处理210mm圆形的任何尺寸印章和基材。该系统是手动装卸印章和模板,但所有处理器都是全自动的,软件用户可以*控制压印过程。它的原理是:将具有纳米结构的模板通过一定压力,压入加热的熔融的高分子薄膜内,待高分子材料冷却,纳米结...
红外激光测厚仪集激光光源,光电检测和计算机工业控制技术三者于一身,可广泛用于生产线上对各种材料的厚度、宽度、轮廓的实时测量,是我国工业生产线产品质量控制的重要设备。作为一种非接触式厚度测量仪器,一直受到人们的热捧。因为它的测量非接触式,读数精准,测量便捷,特别在物体定位和厚度测量方面运用范围最为广泛。但普通的在线测厚仪有不足之处,就是在测量高温物体时,由于高温物体表面热辐射较大,特别是在超高温物体,比如铸坯表面1000度以上,经常出现读数不准或反应迟缓问题。而高温型在线测厚仪...
光学膜厚仪是一种非接触式测量仪器,一般会运用在生产厂商大量生产产品的过程,由于误差经常会导致产品全部报废,这时候就需要运用光学膜厚仪来介入到生产环境,避免这种情况的发生。典型应用领域:半导体制造业,光刻胶、氧化物、硅或其他半导体膜层的厚度测量;生物医学原件:聚合物/聚对二甲苯;生物膜/球囊壁厚度;植入药物涂层;微电子:光刻胶;硅膜;氮化铝/氧化锌薄膜滤镜;液晶显示器:盒厚;聚酰亚胺;导电透明膜。仪器的使用优点:1、测量数据多样:可以测得物体的膜厚度和n,k数据,这是其它类型的...
折射率测量仪是指光在空气中的速度与光在该材料中的速度之比率。材料的折射率越高,使入射光发生折射的能力越强。折射率越高,镜片越薄,即镜片中心厚度相同,相同度数同种材料,折射率高的比折射率低的镜片边缘更薄。折射率测量仪的测量原理:通过测量棱镜的折射角确定光学材料的折射率,讲反射镜式平行光管安装在气动轴承上,利用倾斜旋转工作台和*小折射原理找到折射角。系统构成:1、高精度旋转编码器;2、带有RS232接口的数字式角度显示器;3、带有高分辨率CCD的反射式平行光管;4、光电自准直仪,...