FR-Ultra是一种紧凑型设备，专门用于快速、准确和无损测量半导体材料的厚/超厚层及透明层。

FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚测量分析系统。

显示器薄膜测量仪*的光学模块可容纳所有光学部件：分光计、复合光源(寿命10000小时)、高精度反射探头。因此，在准确性、重现性和长期稳定性方面保证了优异的性能。

硅片厚度测量仪采用的是近红外光(NIR)来测量膜层厚度，因此可以测试一些肉眼看是不透明的膜层( 比如半导体膜层) 。