膜厚仪又叫膜厚测试仪，可应用于在线膜厚测量，测氧化物，SiNx，感光保护膜和半导体膜。也可以用来测量镀在钢，铝，铜，陶瓷和塑料等上的粗糙膜层。薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉，干涉的发生与膜厚及折光系数等有关，因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损，精确且快速的光学薄膜厚度测量技术，薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。膜厚仪符合了(GB/T4957-2003)中的涡流法以及(GB/T4956-2003)中的磁性法等相关标准。一般根据原理不同可分为3...

3D划痕仪主要用来测定色漆和清漆或有关产品的单一涂层或符合涂层体系乃划伤或耐划透的性能。使用于GB9279-88《色漆和清漆划痕试验》和ISO12137-1：1997《色漆和清漆耐划伤性的测定》标准。3D划痕仪的原理：测试样品通过夹轨固定到移动滑板上，有一条移动横梁固定在两条立柱上，横梁可以自由移动，用于承载测试工具和载荷。压力范围0.5-20N，通过移动横梁上的载荷对照刻度来设置进行划痕测试时，测试工具放到试样上，然后试样向前移动，开始划痕测试。当滑板及试样回头移动时，导向...

红外激光测厚仪是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。应用领域：黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测；金属镀层的厚度测量,电镀液和镀层含量的测定；主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。红外激光测厚仪主要类型：1、纸张测厚仪：适用于4mm以下的...

在SEMICON展会期间，为半导体、微机电系统(MEMS)和纳米技术应用提供晶圆处理解决方案的优越企业EVG隆重推出了用于高亮度发光二极管(HB-LED)批量生产的第二代全自动掩模对准系统。GenII在发布第一代EVG620HBL的一年后推出，提供一个工具平台，主要用于满足HB-LED客户的特定需求，以及市场对降低总所有权成本的不断要求。另外，EVG620HBLGenII还优化了晶圆厂的工具足迹——与竞争产品相比，每平方米洁净室空间的晶圆产出量提高了55%。HBLGenII专...

椭圆偏振仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量设备。由于并不与样品接触，对样品没有破坏且不需要真空。可测的材料包括：半导体、电介质、聚合物、有机物、金属、多层膜物质。可以应用于半导体、通讯、数据存储、光学镀膜、平板显示器、科研、生物、医药等领域。椭圆偏振仪的结构：本产品常用的光学元件有下列几种：1、光源：椭圆偏振仪的理想光源是强度稳定，从紫外到近红外整个波长范围内输出近似为常数，目前大多选用Xe或Hg-Xe灯是比较合理的，但是它在UV强度较弱，而在880~...